失效分析

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来自 论坛2019-08-07 15:48

探针测试

通过微探针连接到芯片并引出所需信号,用于电学特性测试 性能参数 放大倍数50X,100X,200X,500X 8个探针座 带屏蔽箱 ……
来自 论坛2019-08-07 15:46

Reliability Test service

可靠度测试服务 (Reliability Test service)提提供完整的可靠度测试服务与测试 方案规划:  美国国防部早在五零年代即对于产品可靠度(Reliability)……
来自 论坛2019-08-07 15:45

Focused Ion Beam, FIB

聚焦离子束显微镜 (Focused Ion Beam, FIB)聚焦离子束显微镜是运用镓 (Ga) 金属来做为离子源。因为镓的熔点为 29.76°C,且在此时的蒸气压为«10-13……
来自 论坛2019-08-07 14:15

芯片开封去层分析

芯片开封去层分析 新型的自动酸开盖机以及最新的激光开盖机。目前国内几乎所有的IC封装形式(COB.QFP.DIP SOT 等)、打线类型(Au Cu Ag),我们都能进行Decap……
来自 论坛2019-08-07 14:14

Auto Curve Tracer应用

自动曲线追踪仪(Auto Curve Tracer)提供DC半导体电子组件及导体组件特性测量、电性故障分析量测(EFA, Electrical Failure Analysis)及……
来自 论坛2019-08-07 14:13

3D X-Ray应用

超高解析度3D X-Ray显微镜(High Resolution 3D X-Ray Microscope)是以非破坏性X射线透视的技术,再搭配光学物镜提高放大倍率进行实验检测,其实……
来自 论坛2019-08-07 14:11

微光显微镜EMMI

微光显微镜EMMI侦测到亮点之情况会产生亮点的缺陷:1.漏电结;2.解除毛刺;3.热电子效应;4闩锁效应; 5氧化层漏电;6多晶硅须;7衬底损失;8.物理损伤等。微光显微镜EMMI……
来自 论坛2019-08-07 14:10

FIB(聚焦离子束)

FIB(聚焦离子束)机台的应用即是将混合镓、液体及金属的离子源照射于样品表面,以取得影像或去除物质,此功能与SEM(扫描电子显微镜)相似。 但FIB的发送电压由30kv升至50kv……
来自 论坛2019-08-07 14:08

聚焦离子束

半导体领域内,除了IC 制造以外,纳米结构在新元件上应用越来越多,特别是纳米光子和纳米光学。聚焦离子束(Focused Ion Beam,FIB)系统是在常规离子束和聚焦电子束系统……
来自 论坛2019-08-07 14:04

半导体失效分析原因

失效分析简述:失效分析是一门新兴发展中的学科,在提高产品质量,技术开发、改进,产品修复及仲裁失效事故等方面具有很强的实际意义。检测是一家以失效分析技术服务为重心的第三方实验室,以其……
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